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電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 第4部分：介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 5594.4-2015
替代情況： 替代 GB/T 5594.4-1985
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 中國電子科技集團公司第十二研究所、中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、北京七星飛行電子有限公司
發(fā)布日期： 2015-05-15
實施日期： 2016-01-01
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更新日期： 2026年02月25日
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內(nèi)容摘要

GB/T 5594的本部分規(guī)定了裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導(dǎo)體及集成電路等基片等用電子陶瓷材料介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方法。
本部分適用于裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導(dǎo)體及集成電路基片等用電子陶瓷材料在頻率為1MHz，溫度從室溫至500℃條件下的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定。

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