本文件描述了使用電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS)在時間分辨模式下測定單個納米顆粒的質量和懸浮液中離子濃度，檢測水相懸浮液中納米顆粒，并表征顆粒數量與質量濃度、顆粒尺寸及數均尺寸分布的方法。本文件適用于水相懸浮液中無機納米顆粒［如金（Au)、銀（Ag)、二氧化鈦（TiO-2)、釩酸鉍（BiVO-4)等金屬和金屬氧化物］的尺寸測定。本文件也適用于氧化物外化學組成和密度已知的金屬化合物(如硫化物等)、金屬復合材料或具有金屬核的包覆顆粒的尺寸測定。本文件測定的水相懸浮液中納米顆粒尺寸范圍為10nm～100nm(可測的顆粒更大,可達1000nm~2000nm)，顆粒數量濃度范圍為10 6個/L~10 9個/L，相應的質量濃度范圍（對于60nm的金納米顆粒)約為1 ng/L~1000ng/L。實際測定的數量取決于所使用的質譜儀類型和所分析的納米顆粒類型。除顆粒濃度外，本文件也適用于懸浮液中離子濃度的測定。離子濃度檢出限與常規的ICP-MS相當。需要注意的是，尺寸小于單顆粒電感耦合等離子體質譜法（spICP-MS)顆粒尺寸檢出限的納米顆粒可能會當作離子進行定量。本文件不適用于有機或碳基納米顆粒如封裝材料、富勒烯和碳納米管（CNT)的檢測和表征，也不適用于除碳以外難以用ICP-MS測定的元素。
參考文獻［12］概述了spICP-MS能檢測的元素和測定的最小顆粒尺寸。