晶向、電阻率0.5Ω·cm~20Ω·cm 的硅單晶切割片和磨削片(簡稱硅片)產品的術語和定義、技術要求、試驗方法、檢驗規則以及標志、包裝、運輸、貯存等。 本標準適用于直徑300mm 直..." />

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300mm 硅單晶切割片和磨削片

標 準 號: GB/T 29508-2013
替代情況:
發布單位: 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 有研半導體材料股份有限公司、中國有色金屬工業標準計量質量研究所
發布日期: 2013-05-09
實施日期: 2014-02-01
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更新日期: 2025年02月14日
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內容摘要

本標準規定了直徑300mm、p型、<100>晶向、電阻率0.5Ω·cm~20Ω·cm 的硅單晶切割片和磨削片(簡稱硅片)產品的術語和定義、技術要求、試驗方法、檢驗規則以及標志、包裝、運輸、貯存等。
本標準適用于直徑300mm 直拉單晶經切割、磨削制備的圓形硅片,產品將進一步加工成拋光片,用于制作集成電路IC用線寬90nm 技術需求的襯底片。

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