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聲表面波（SAW）器件用單晶晶片規(guī)范與測量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 30118-2013
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 中國電子科技集團(tuán)第二十六研究所、中國電子科技集團(tuán)德清華瑩電子有限公司、北京石晶光電科技有限公司
發(fā)布日期： 2013-12-17
實(shí)施日期： 2014-05-15
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更新日期： 2025年01月29日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了人造石英、鈮酸鋰(LN)、鉭酸鋰(LT)、四硼酸鋰(LBO)和硅酸鎵鑭(LGS)等單晶晶片等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于人造石英、鈮酸鋰(LN)、鉭酸鋰(LT)、四硼酸鋰(LBO)和硅酸鎵鑭(LGS)等單晶晶片。這些單晶晶片用作聲表面波(SAW)濾波器和諧振器等基片材料。

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