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半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分：掃頻振動

標 準 號： GB/T 4937.12-2018
替代情況：
發布單位： 國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位： 中國電子科技集團公司第十三研究所
發布日期： 2018-09-17
實施日期： 2019-01-01
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更新日期： 2019年06月05日
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內容摘要

本部分的目的是測定在規定頻率范圍內，振動對器件的影響。本試驗是破壞性試驗，通常用于有空腔的器件。?本試驗與GB/T 2423.10-2008基本一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，采用本部分的條款。

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