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納米技術(shù) 二硫化鉬薄片的層數(shù)測量 拉曼光譜法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 44935-2024
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 堀場(中國)貿(mào)易有限公司、中國科學(xué)院物理研究所、天津大學(xué)、國家納米科學(xué)中心
發(fā)布日期： 2024-12-31
實(shí)施日期： 2025-07-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年08月05日
下載地址：點(diǎn)擊這里 3.66MB
下載點(diǎn)數(shù)：30點(diǎn)（VIP會員免費(fèi)）
內(nèi)容摘要

本文件描述了使用拉曼光譜法測量MoS2薄片層數(shù)的方法。 ?
本文件適用于面內(nèi)尺寸大于或等于2 μm的2H堆垛的本征MoS2薄片的層數(shù)測量。

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