本標準規定了透射電鏡（TEM）在很大放大倍率范圍內所記錄的圖像的校準方法。用于校準的標準物質具有周期性結構，例如衍射光柵復型、半導體的超點陣結構或X射線分析的分光晶體以及碳、金或硅的晶體晶格像。
本標準適用于記錄在照相膠片上或成像板上或數字相機內置傳感器采集的 TEM圖像的放大倍率。本標準也可用于校準標尺，但不適用于專用的臨界尺寸測長透射電鏡（CD-TEM）和掃描透射電鏡（STEM）。