微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法粘度測(cè)定

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 17473.5-2008

替代情況：替代 GB/T 17473.5-1998

發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

起草單位：貴研鉑業(yè)股份有限公司

發(fā)布日期： 2008-03-31

實(shí)施日期： 2008-09-01

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更新日期： 2020年11月06日

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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法》（所有部分）的整合修訂，分為７個(gè)部分,本部分為ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第５部分。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料中粘度的測(cè)定方法。本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法　粘度測(cè)定》。
本部分與ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８相比，主要有如下變化：
———將原標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為：微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法　粘度測(cè)定；
———將原標(biāo)準(zhǔn)中范圍去除“非貴金屬電子漿料粘度測(cè)定也可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行”